兩邊雙側(cè)都有光片掃描器、壓電物鏡定位器和科研型CCD相機(jī)。在實(shí)驗(yàn)過程中從兩個(gè)視圖中采集圖像堆,以及兩個(gè)圖像數(shù)據(jù)庫在計(jì)算機(jī)層面被合并產(chǎn)生各向同性分辨率的3D圖像數(shù)據(jù)庫（常見軸向分辨率較差的問題通過另外一個(gè)視圖的圖像信息而彌補(bǔ)）。如果需要可以在單面操作。

雙側(cè)光片顯微鏡you點(diǎn)：XY和Y分辨率都非常高-采樣成像速度高,空間分辨率高,非常適合活細(xì)胞成像

雙側(cè)光片缺點(diǎn):購買*多的硬件，各向同性分辨率需要采集數(shù)據(jù)后處理。

ASI DISPIM雙側(cè)倒置面照明顯微鏡 控制器

ASI 雙側(cè)倒置選擇平面照明顯微鏡特點(diǎn)

低光漂白：與傳統(tǒng)共聚焦或轉(zhuǎn)盤式共聚焦相比,光漂白要降低10倍

高速3D成像并帶有各向同性分辨率特點(diǎn)

軸向分辨率高，是傳統(tǒng)共聚焦或轉(zhuǎn)盤式共聚焦的兩倍

成像速率高達(dá)200平米/秒

傳統(tǒng)通用的樣品固定，蓋玻片或開放式的培養(yǎng)皿中

模塊化而靈活搭配

 Applied Scientific Instrumentation diSPIM/iSPIM雙側(cè)倒置選擇性平面照明顯微鏡規(guī)格參數(shù)

視場(chǎng)：>400微米（對(duì)角線）

分辨率：380nm @500nm波長(zhǎng) 在XYZ三軸方向

樣品大小：對(duì)于平面樣品不限制,對(duì)于半球狀樣品半徑zui大為3.5mm

(上述指標(biāo)受到物鏡參數(shù)影響，上述指標(biāo)采用Nikon 40x/0.8WD物鏡）

樣品固定：蓋玻片或培養(yǎng)皿